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尽管半导体行业采用了最先进的制造技术，但 LED 的光输出和色温因芯片而异。因此，采用分箱来最大化产量并对产品进行分类。 ANSI C78.377-2017 [1] 等标准定义了色度边界的公差带或“区间”。
因此，LED 分档无一例外都需要测量器件的绝对光谱功率分布，以便精确确定每个 LED 的光输出和相关色温 (CCT)。尽管有时也会指定平均 LED 强度 [2]，但光输出最常以光通量 (lm) 来测量。
LED 是批量生产的，因此需要尽可能短的测量时间来进行分级。
制造商使用典型持续时间约为 20 毫秒或更短的单脉冲来测试其设备。这种 高速测试 对光谱辐射仪提出了很高的要求，要求输入光学器件具有高光通量、高灵敏度和尽可能小的暗信号以及快速的数据处理和数据传输。此外，该软件必须能够轻松地将测量设备集成到完整的自动化系统中。 光学测量仪器厂商 Gigahertz-Optik GmbH凭借 BTS2048-VL 光谱仪 及其用于光通量和平均 LED 强度的测量附件，提供了用于 LED 分级的高性能测量设备。
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